澤攸電鏡 ZEM15：微觀探索的可靠伙伴

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澤攸電鏡 ZEM15：微觀探索的可靠伙伴
在材料科學(xué)與生命科學(xué)的微觀研究中，澤攸電鏡 ZEM15 以穩(wěn)定性能成為科研人員的得力工具。

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更新時(shí)間：2025-10-21

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析

澤攸澤攸臺(tái)式掃描電鏡澤攸臺(tái)階儀澤攸探針臺(tái)及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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在材料科學(xué)與生命科學(xué)的微觀研究中，澤攸電鏡 ZEM15 以穩(wěn)定性能成為科研人員的得力工具。其核心電子光學(xué)系統(tǒng)采用高品質(zhì)永磁材料，配合精密加工的極靴，形成均勻穩(wěn)定的磁場(chǎng)，為電子束的聚焦與偏轉(zhuǎn)提供可靠基礎(chǔ)。澤攸電鏡 ZEM15：微觀探索的可靠伙伴

該型號(hào)加速電壓范圍為 0.5 - 15kV，可根據(jù)樣品特性靈活調(diào)節(jié)：低電壓下適合觀察不導(dǎo)電樣品的表面形貌，減少電荷積累；高電壓則能穿透較厚樣品，獲取內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息。放大倍數(shù)覆蓋 200 - 1,000,000 倍，從微米級(jí)的整體觀察到納米級(jí)的細(xì)節(jié)分析均可勝任。樣品室直徑達(dá) 120mm，支持多種樣品臺(tái)安裝，最大可放置 50mm 直徑的樣品。

在成像模式上，具備二次電子像（SE）和背散射電子像（BSE）功能：SE 像能清晰呈現(xiàn)樣品表面的凹凸形貌，BSE 像則可反映元素分布差異。設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì)，機(jī)械結(jié)構(gòu)選用高強(qiáng)度鋁合金與不銹鋼，既保證剛性又減輕重量，便于實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部移動(dòng)。

使用時(shí)，通過(guò)觸控面板或配套軟件即可完成操作，新手經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單培訓(xùn)就能掌握基本流程。適用于高?？蒲小⑵髽I(yè)質(zhì)檢等場(chǎng)景，如觀察半導(dǎo)體芯片的布線結(jié)構(gòu)、分析金屬材料的晶粒分布等，為研究與生產(chǎn)提供直觀的微觀圖像支持。澤攸電鏡 ZEM15：微觀探索的可靠伙伴

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