澤攸深入材料內(nèi)部的探索者

產(chǎn)品簡介

澤攸深入材料內(nèi)部的探索者
針對需要深入分析材料內(nèi)部結構的研究，澤攸電鏡展現(xiàn)出優(yōu)勢。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-21

廠商性質：代理商

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

針對需要深入分析材料內(nèi)部結構的研究，澤攸電鏡展現(xiàn)出優(yōu)勢。其采用場發(fā)射電子槍，加速電壓范圍 10 - 30kV，電子束斑直徑可小至 1.5nm，為高分辨率成像提供保障。

該型號配備能量色散 X 射線譜儀（EDS），能對樣品微區(qū)進行元素定性與定量分析，元素檢測范圍從 B 到 U。EDS 探測器分辨率優(yōu)于 133eV，在分析微小夾雜物的成分時表現(xiàn)出色。

鏡筒采用雙層水冷結構，避免電子光學系統(tǒng)因長時間工作產(chǎn)生的溫度漂移，保證成像穩(wěn)定性。真空系統(tǒng)極限真空可達 1×10??Pa，適合對真空度要求較高的樣品，如易揮發(fā)的有機材料。澤攸深入材料內(nèi)部的探索者

參數(shù)方面，放大倍數(shù) 200 - 2,000,000 倍，樣品臺可實現(xiàn) ±30° 傾斜與 360° 旋轉，便于觀察樣品的立體結構。使用時，通過軟件可聯(lián)動控制電鏡與 EDS 系統(tǒng)，一鍵完成成像與成分分析的切換。

在航空航天材料檢測中，可用于分析渦輪葉片的氧化層成分；在地質研究中，能識別礦物顆粒中的微量元素分布，為多領域研究提供微觀結構與成分的關聯(lián)數(shù)據(jù)。澤攸深入材料內(nèi)部的探索者

樣品臺采用高精度步進電機驅動，移動范圍為 X/Y ±5mm，Z 軸調(diào)節(jié)范圍 10mm，定位精度達 1μm，可實現(xiàn)樣品的精準定位與多區(qū)域觀察。設備配備數(shù)字成像系統(tǒng)，圖像采集速度達 15 幀 / 秒，支持實時觀察與快速存儲。

用材上，鏡筒內(nèi)部關鍵部件采用無氧銅材質，經(jīng)特殊工藝處理減少雜散磁場干擾；真空系統(tǒng)由機械泵與分子泵組成，抽氣時間短，從大氣到工作真空（≤5×10??Pa）約需 8 分鐘。

使用說明中明確了操作步驟：開機預熱 30 分鐘后，加載樣品并抽真空，待真空達標后設置加速電壓與放大倍數(shù)，通過搖桿控制樣品臺移動至觀察區(qū)域即可成像。適用于電子器件失效分析、生物樣品的超微結構觀察等領域。

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