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三維光學(xué)輪廓儀
BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀
ContourX-500BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具




產(chǎn)品簡介
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具在電子、汽車零部件等工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)檢環(huán)節(jié),快速且準(zhǔn)確的微觀測量是把控產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。布魯克 ContourX-500 憑借適配工業(yè)場景的性能與便捷操作,成為生產(chǎn)線質(zhì)檢工位的實(shí)用選擇。
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參數(shù)項(xiàng) | 具體數(shù)值 |
橫向分辨率 | 最高可達(dá) 0.14μm |
縱向分辨率 | 低至 0.1nm |
縱向測量范圍 | 0.1nm-10mm |
樣品臺尺寸 | 150mm×150mm |
樣品臺承重 | 5kg |
連續(xù)測量效率 | 單樣品平均檢測時(shí)間<2 分鐘 |
工業(yè)對接協(xié)議 | 支持 Modbus、Profinet |
數(shù)據(jù)存儲容量 | 本地可存 1000 組數(shù)據(jù) |
工作溫度 | 15-30℃ |
相對濕度 | 20%-70%(無冷凝) |
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀工業(yè)質(zhì)檢高效工具
公司地址:北京市房山區(qū)長陽鎮(zhèn)
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