澤攸臺式掃描電鏡成像性能與參數(shù)表現(xiàn)解析

產品簡介

澤攸臺式掃描電鏡成像性能與參數(shù)表現(xiàn)解析
掃描電子顯微鏡的核心價值在于成像能力，ZEM20在分辨率、放大倍數(shù)及成像適應性上進行了針對性優(yōu)化。本文結合其技術參數(shù)與實際測試數(shù)據(jù)，解析其性能表現(xiàn)。

產品型號：ZEM20

更新時間：2025-10-23

廠商性質：代理商

訪問量：93

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臺式電鏡&臺階儀&原位分析

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澤攸臺式掃描電鏡成像性能與參數(shù)表現(xiàn)解析

掃描電子顯微鏡的核心價值在于成像能力，ZEM20在分辨率、放大倍數(shù)及成像適應性上進行了針對性優(yōu)化。本文結合其技術參數(shù)與實際測試數(shù)據(jù)，解析其性能表現(xiàn)。

分辨率是衡量SEM的關鍵指標。ZEM20在高真空模式下，加速電壓30kV時分辨率可達3nm，1kV時為5nm；低真空模式下，10kV分辨率約8nm。這一表現(xiàn)得益于電磁透鏡的精密設計——物鏡光闌可切換3種尺寸（20μm、50μm、100μm），配合消像散器自動校正，有效抑制色差與球差，提升邊緣銳度。測試中，對304不銹鋼斷口的觀察顯示，晶界與滑移線清晰可辨，滿足材料微觀結構分析需求。

放大倍數(shù)范圍覆蓋10×至100,000×，其中1,000×-50,000×為常用區(qū)間。設備支持連續(xù)變倍，通過電機驅動物鏡光闌與透鏡電流聯(lián)動實現(xiàn)，切換過程平滑無跳焦。對于大尺寸樣品（如半導體封裝芯片），低倍模式可快速定位區(qū)域，再逐步放大至高倍觀察細節(jié)，提升檢測效率。

成像模式多樣化。除常規(guī)SE二次電子像外，BSE背散射電子像可反映樣品成分差異——例如，檢測鋁合金中的Si相分布時，BSE圖像中Si顆粒呈亮白色，與基體形成鮮明對比。此外，ZEM20支持低真空模式下的“環(huán)境掃描"，可直接觀察未噴金的環(huán)氧樹脂包埋生物樣品（如果蠅觸角），表面形貌與部分化學信息（如未染色的幾丁質結構）同時呈現(xiàn)。

參數(shù)調節(jié)靈活性是另一優(yōu)勢。加速電壓可在1kV-30kV間以100V步進調節(jié)，低電壓減少對樣品的損傷（適用于有機材料），高電壓增強信號穿透深度（適用于厚涂層樣品）。工作距離（WD）調節(jié)范圍為5mm-15mm，短WD（5mm）提升分辨率，長WD（15mm）擴大觀察視野，滿足不同場景需求。

參數(shù)表關鍵項：

加速電壓：1kV-30kV（步進100V）
分辨率：3nm（30kV，SE）；8nm（10kV，低真空）
放大倍數(shù)：10×-100,000×（連續(xù)變倍）
真空模式：高真空（≤10??Pa）、低真空（10Pa-10?1Pa）
探測器：SE（標配）、BSE（選配）

實際測試中，對碳纖維復合材料的檢測顯示，ZEM20能清晰分辨纖維與樹脂基體的界面，且連續(xù)拍攝100張圖像（5000×）無明顯漂移，穩(wěn)定性良好。其性能參數(shù)雖非行業(yè)頂尖，但通過合理的功能分配與模式適配，在教學、工業(yè)檢測及常規(guī)科研中展現(xiàn)出較高的實用性。

澤攸臺式掃描電鏡成像性能與參數(shù)表現(xiàn)解析

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