布魯克三維光學(xué)輪廓儀復(fù)雜樣品也能輕松測
一、透明樣品：不被反光 “干擾" 的檢測方案
在光學(xué)零件檢測中，玻璃鏡片、透明薄膜這類樣品的反光問題，常讓傳統(tǒng)設(shè)備難以清晰捕捉表面狀態(tài)，而 ContourX-500 能通過專屬優(yōu)化方案，避開反光干擾，精準(zhǔn)獲取數(shù)據(jù)。
比如檢測手機(jī)鏡頭玻璃時(shí)，傳統(tǒng)設(shè)備可能因表面反光導(dǎo)致劃痕、氣泡 “看不清"，需要反復(fù)調(diào)整角度才能勉強(qiáng)檢測。ContourX-500 只需開啟 “透明樣品模式"，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)調(diào)整光源角度與成像算法，削弱表面反光，讓玻璃表面的細(xì)微劃痕、微小氣泡清晰呈現(xiàn)，不用再依賴操作人員的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)調(diào)試。
檢測光學(xué)薄膜時(shí)，即使薄膜厚度極薄，也能通過非接觸測量方式，完整記錄薄膜表面的平整度狀態(tài)，避免因接觸壓力導(dǎo)致薄膜變形，影響檢測結(jié)果。無論是研發(fā)階段的薄膜工藝優(yōu)化，還是生產(chǎn)環(huán)節(jié)的質(zhì)量抽檢，都能快速獲得可靠數(shù)據(jù)，不用再擔(dān)心透明材質(zhì)帶來的檢測難題。
二、柔性樣品：不擔(dān)心 “變形" 的測量保障
塑料薄膜、金屬箔片等柔性樣品，最大的檢測痛點(diǎn)是容易因夾持受力變形，導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真，而 ContourX-500 從樣品固定到測量方式，都為柔性樣品做了適配設(shè)計(jì)。
以食品包裝用塑料薄膜檢測為例，需要測量薄膜表面的粗糙度，判斷是否影響印刷效果。ContourX-500 的樣品臺(tái)支持 “輕壓固定"，用柔軟的固定組件輕輕壓住薄膜邊緣，避免局部受力導(dǎo)致褶皺；搭配非接觸測量技術(shù)，無需接觸薄膜表面就能完成掃描，從根本上杜絕因測量方式導(dǎo)致的樣品變形，確保粗糙度數(shù)據(jù)真實(shí)反映薄膜實(shí)際狀態(tài)。
檢測金屬箔片（如鋰電池用鋁箔）時(shí)，即使箔片薄至幾微米，也能通過設(shè)備的低倍率快速掃描，查看是否存在針孔、劃痕等缺陷，同時(shí)高倍率可聚焦局部區(qū)域，觀察細(xì)微的表面凸起，為箔片生產(chǎn)工藝調(diào)整提供參考。整個(gè)檢測過程不用擔(dān)心樣品破損或變形，降低檢測損耗。
三、微小樣品：不放過 “細(xì)節(jié)" 的精準(zhǔn)捕捉
電子行業(yè)的芯片引腳、微型齒輪等微小樣品，檢測難點(diǎn)在于 “尺寸小、細(xì)節(jié)多"，傳統(tǒng)設(shè)備可能難以清晰呈現(xiàn)細(xì)微結(jié)構(gòu)，而 ContourX-500 通過靈活的物鏡搭配與細(xì)節(jié)優(yōu)化，輕松應(yīng)對這類樣品檢測。
比如檢測芯片上的細(xì)小鍵合線，直徑僅幾十微米，低倍率下難以看清形態(tài)，高倍率又容易遺漏整體分布。ContourX-500 可先用低倍率掃描，確定鍵合線的整體分布區(qū)域，再切換高倍率聚焦單根鍵合線，觀察其弧度、高度是否符合標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)軟件支持 “局部放大分析"，框選重點(diǎn)區(qū)域就能生成細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)，不用反復(fù)切換視野。
檢測微型齒輪時(shí)，齒輪齒牙的微小磨損會(huì)影響傳動(dòng)精度，設(shè)備的高倍率物鏡能清晰捕捉齒牙表面的磨損痕跡，甚至能觀察到微米級的凹陷，幫助判斷齒輪是否達(dá)到使用壽命。軟件還能自動(dòng)統(tǒng)計(jì)齒牙的尺寸偏差，生成直觀的對比報(bào)告，不用手動(dòng)測量計(jì)算，減少人為誤差。
無論是透明、柔性還是微小樣品，ContourX-500 都能通過針對性的設(shè)計(jì)與功能優(yōu)化，解決傳統(tǒng)檢測中的痛點(diǎn)，讓復(fù)雜樣品檢測不再 “難操作、難精準(zhǔn)"，成為覆蓋多類型樣品的實(shí)用測量工具。布魯克三維光學(xué)輪廓儀復(fù)雜樣品也能輕松測
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