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奧林巴斯正置式顯微鏡電子元件檢測微觀助手電子元件的微型化趨勢,對檢測提出了更高要求。芯片焊盤的鍍層均勻性、電容引腳的氧化程度、PCB板表面的污染物,這些微觀特征直接影響元件的可靠性。奧林巴斯BX53正置式材料顯微鏡,憑借高分辨率與靈活的觀察模式,成為電子元件檢測的實用工具。
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