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臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
澤攸
產(chǎn)品分類
澤攸:電子元件批量檢測(cè)臺(tái)階儀 在小型電子廠元件抽檢、五金作坊配件尺寸檢查、高?;A(chǔ)實(shí)驗(yàn)教學(xué)等場(chǎng)景中,無需復(fù)雜功能的臺(tái)階儀,更需要操作簡(jiǎn)單、成本可控且能滿足基礎(chǔ)測(cè)量需求的設(shè)備。澤攸半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B 憑借簡(jiǎn)潔設(shè)計(jì)、穩(wěn)定的基礎(chǔ)表現(xiàn),成為這類場(chǎng)景的實(shí)用選擇,幫助用戶高效完成臺(tái)階高度、薄膜厚度等日常檢測(cè)任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-10-22
產(chǎn)品型號(hào):JS2000B
瀏覽量:176
澤攸:小企業(yè)抽檢實(shí)用半自動(dòng)臺(tái)階儀 在小型電子廠元件抽檢、五金作坊配件尺寸檢查、高校基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)教學(xué)等場(chǎng)景中,無需復(fù)雜功能的臺(tái)階儀,更需要操作簡(jiǎn)單、成本可控且能滿足基礎(chǔ)測(cè)量需求的設(shè)備。澤攸半自動(dòng)臺(tái)階儀 JS100B 憑借簡(jiǎn)潔設(shè)計(jì)、穩(wěn)定的基礎(chǔ)表現(xiàn),成為這類場(chǎng)景的實(shí)用選擇,幫助用戶高效完成臺(tái)階高度、薄膜厚度等日常檢測(cè)任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-10-22
產(chǎn)品型號(hào):JS100B
瀏覽量:162
澤攸 ZEM20:工業(yè)研發(fā)顯微表征平臺(tái) 制造業(yè)的研發(fā)環(huán)節(jié)(如半導(dǎo)體、航空航天、醫(yī)療器械),對(duì)產(chǎn)品微觀結(jié)構(gòu)的超高分辨率表征與多維度分析是提升產(chǎn)品性能、突破技術(shù)瓶頸的關(guān)鍵。澤攸臺(tái)式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與強(qiáng)大的擴(kuò)展能力,成為工業(yè)研發(fā)的核心顯微表征平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):
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澤攸 ZEM20:科研顯微研究平臺(tái) 在高校重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)的研究中,對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的超高分辨率分析與多維度表征是突破科研瓶頸的關(guān)鍵。澤攸臺(tái)式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與豐富的擴(kuò)展功能,成為開展前沿微觀研究的高級(jí)平臺(tái)。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:175
澤攸 ZEM18:科研機(jī)構(gòu)微觀分析利器 對(duì)于經(jīng)費(fèi)有限、空間緊張的小型科研團(tuán)隊(duì)或初創(chuàng)企業(yè),澤攸臺(tái)式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價(jià)比與易維護(hù)性,成為微觀分析工作的實(shí)用工具,助力完成基礎(chǔ)科研與產(chǎn)品研發(fā)中的顯微觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:153
澤攸 ZEM18:工業(yè)質(zhì)檢顯微檢測(cè)助手 對(duì)于經(jīng)費(fèi)有限、空間緊張的小型科研團(tuán)隊(duì)或初創(chuàng)企業(yè),澤攸臺(tái)式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價(jià)比與易維護(hù)性,成為微觀分析工作的實(shí)用工具,助力完成基礎(chǔ)科研與產(chǎn)品研發(fā)中的顯微觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):
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