Sensofar 輪廓儀：解鎖粗糙度測量更多可能

產(chǎn)品簡介

Sensofar 輪廓儀：解鎖粗糙度測量更多可能
在微型電子元件制造領(lǐng)域，如微型傳感器、微型連接器、芯片封裝元件等，其尺寸通常以微米為單位，表面質(zhì)量與尺寸精度直接決定元件的電氣性能與裝配兼容性。哪怕是幾微米的尺寸偏差或細(xì)微劃痕，都可能導(dǎo)致元件無法正常工作或裝配失效。

產(chǎn)品型號：S neox

更新時(shí)間：2025-10-23

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：109

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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Sensofar 輪廓儀：解鎖粗糙度測量更多可能

Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀的軟件系統(tǒng)，除基礎(chǔ)操作功能外，還包含豐富的拓展模塊，為不同行業(yè)用戶提供定制化測量解決方案。核心軟件 SensoSCAN 支持插件式擴(kuò)展，用戶可根據(jù)需求添加行業(yè)專用分析模塊，如針對半導(dǎo)體行業(yè)的 “晶圓缺陷分析插件"，能自動(dòng)識別晶圓表面的劃痕、凹坑等缺陷，統(tǒng)計(jì)缺陷數(shù)量與尺寸分布，并生成可視化報(bào)告；針對光學(xué)元件行業(yè)的 “面型誤差分析插件"，可計(jì)算平面度、曲率半徑等關(guān)鍵參數(shù)，且數(shù)據(jù)格式兼容主流光學(xué)設(shè)計(jì)軟件，方便后續(xù)設(shè)計(jì)優(yōu)化。

數(shù)據(jù)處理功能同樣具備拓展性，軟件內(nèi)置的 “自定義算法編輯器" 允許專業(yè)用戶編寫專屬分析公式，如在材料科學(xué)領(lǐng)域，用戶可編寫計(jì)算表面紋理各向異性的算法，滿足特殊研究需求。多設(shè)備協(xié)同管理模塊支持同時(shí)連接 5 臺(tái) S neox 設(shè)備，通過統(tǒng)一軟件界面實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集與結(jié)果匯總，適合大型實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線的多設(shè)備聯(lián)動(dòng)場景。

軟件的兼容性也值得關(guān)注，支持與 CAD 軟件聯(lián)動(dòng)，將測量得到的三維輪廓數(shù)據(jù)導(dǎo)入 CAD 系統(tǒng)，與設(shè)計(jì)模型進(jìn)行對比分析，快速識別實(shí)際產(chǎn)品與設(shè)計(jì)圖紙的偏差。同時(shí)，軟件可接入工廠 MES 系統(tǒng)，實(shí)時(shí)上傳測量數(shù)據(jù)，便于生產(chǎn)過程的質(zhì)量監(jiān)控與數(shù)據(jù)追溯。操作權(quán)限管理功能能為不同崗位用戶設(shè)置差異化權(quán)限，如操作員僅擁有測量與數(shù)據(jù)查看權(quán)限，管理員則可修改參數(shù)與管理用戶，保障操作安全性。

Sensofar 輪廓儀：解鎖粗糙度測量更多可能

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