Sensofar數(shù)據(jù)處理：從采集到分析的全流程

產(chǎn)品簡介

Sensofar數(shù)據(jù)處理：從采集到分析的全流程
Sensofar S neox 的測量價值不僅在于數(shù)據(jù)采集，更通過完善的軟件系統(tǒng)實現(xiàn)數(shù)據(jù)處理、分析與追溯的全流程管理。

產(chǎn)品型號：S neox

更新時間：2025-10-23

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：100

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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Sensofar數(shù)據(jù)處理：從采集到分析的全流程

Sensofar S neox 的測量價值不僅在于數(shù)據(jù)采集，更通過完善的軟件系統(tǒng)實現(xiàn)數(shù)據(jù)處理、分析與追溯的全流程管理。

數(shù)據(jù)采集階段，設(shè)備通過多技術(shù)融合實現(xiàn)高維度數(shù)據(jù)獲取。RGB 三色 LED 光源同步采集形貌與色彩信息，多波長干涉技術(shù)同時獲取膜厚分布與材料折射率，避免多次測量導(dǎo)致的誤差疊加。量子點(diǎn)增強(qiáng)型 CMOS 傳感器以 180 幀 / 秒的速度采集信號，結(jié)合動態(tài)干涉條紋分析功能，可記錄材料結(jié)構(gòu)的實時變化數(shù)據(jù)。采集的原始數(shù)據(jù)以.sfc 格式存儲，同時支持導(dǎo)出為.stl、.mat、.csv 等通用格式，方便后續(xù)第三方軟件分析。

數(shù)據(jù)處理依賴智能算法與軟件功能。相位解包裹算法提升縱向測量精度至 0.05nm，能精準(zhǔn)解析納米級薄膜的厚度變化。實時環(huán)境補(bǔ)償算法則對采集數(shù)據(jù)進(jìn)行振動、溫度校正，減少環(huán)境干擾影響。SensoSCAN 軟件內(nèi)置多種分析模塊，可自動計算粗糙度（Ra、Rq）、臺階高度、孔隙率等參數(shù)，生成 2D 輪廓圖與 3D 形貌模型。

科研場景下，數(shù)據(jù)追溯功能尤為重要。軟件自動記錄每次測量的設(shè)備狀態(tài)參數(shù)，包括光源強(qiáng)度、物鏡倍率、環(huán)境溫度、濕度等，與測量數(shù)據(jù)綁定存儲，便于后期追溯實驗條件，確保結(jié)果可重復(fù)驗證。工業(yè)場景中，數(shù)據(jù)可與 MES 系統(tǒng)對接，實現(xiàn)檢測結(jié)果與生產(chǎn)批次的關(guān)聯(lián)管理，助力質(zhì)量追溯與工藝優(yōu)化。

數(shù)據(jù)處理全流程參數(shù)表

流程階段	核心功能	輸出結(jié)果
數(shù)據(jù)采集	多技術(shù)同步采集	形貌 + 色彩 + 膜厚數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)校正	環(huán)境補(bǔ)償 + 相位解包裹	校正后原始數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)分析	粗糙度 / 臺階高度計算	2D 輪廓圖 + 3D 模型 + 參數(shù)報告
數(shù)據(jù)管理	格式導(dǎo)出 + 條件追溯	多格式文件 + 關(guān)聯(lián)參數(shù)日志