Sensofar白光干涉光學輪廓儀的技術特點白光干涉光學輪廓儀作為一種表面形貌測量工具，具有多種技術特點，使其在工業(yè)檢測和科學研究中受到關注。Sensofar S neox 光學輪廓儀集成了多種測量模式，包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉技術，用戶可以根據樣品特性靈活選擇合適的測量方式。

白光干涉模式利用白光干涉原理，通過垂直掃描捕獲干涉條紋，分析表面高度信息。這種模式適用于光滑表面和具有高深寬比結構的測量，能夠提供亞納米級的縱向分辨率。其非接觸式測量方式避免了對樣品表面的損傷，適合測量敏感材料。

Sensofar S neox 光學輪廓儀采用了Microdisplay共焦技術，實現(xiàn)了掃描頭內無運動部件。這種設計減少了振動對測量精度的影響，同時提高了掃描速度。儀器的數(shù)據采集速度可達180幀/秒，典型三維圖像獲取時間僅需3秒，提高了檢測效率。

儀器還引入了融合共聚焦掃描模式，將共聚焦和多焦面疊加兩種技術的優(yōu)勢結合起來。這種模式能夠測量最大86度的斜坡，同時保持納米級的縱向精度，擴展了儀器的應用范圍。

在數(shù)據處理方面，Sensofar S neox 光學輪廓儀配備了智能噪音檢測功能，能夠識別并消除不可靠的數(shù)據像素，提高圖像質量。與傳統(tǒng)的空間平均技術相比，這種逐像素處理的方法可以在不損失橫向分辨率的情況下減少噪點。

儀器的校準遵循ISO 25178標準，確保了測量結果的可追溯性。它支持一鍵實現(xiàn)ISO25178和ISO4287標準的粗糙度測量，無需復雜的參數(shù)設置，簡化了操作流程。

Sensofar S neox 光學輪廓儀的軟件分析系統(tǒng)Senso View提供了交互式分析工具，支持二維和三維視圖的多種顯示和渲染選項。用戶可以測量關鍵尺寸、角度、距離等參數(shù)，并使用注釋工具突出顯示特征。

此外，儀器的結構設計考慮了環(huán)境適應性，全封閉光路和恒溫控制系統(tǒng)有助于減少溫度波動和振動對測量的影響。這種設計保障了儀器在24小時連續(xù)運行時的測量穩(wěn)定性。

總的來說，白光干涉光學輪廓儀通過結合多種測量技術和*的數(shù)據處理算法，為用戶提供了一種多功能的表面形貌測量方案。其技術特點使其能夠適應從粗糙到超光滑的各種表面測量任務，滿足不同行業(yè)的應用需求。Sensofar白光干涉光學輪廓儀的技術特點